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デバイス・部品の信頼性試験 / 高久清〔ほか〕著
デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン
(信頼性110番シリーズ ; 2)

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越中島図書館 / 一般図書
549/S 9/2 50000183581 183581 4817130288

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出版情報 東京 : 日科技連出版社 , 1992.9
大きさ x, 164p ; 21cm
著者標目  高久, 清(1943-) <タカヒサ, キヨシ>
件　名 BSH:半導体
BSH:集積回路
BSH:信頼性(工学)
分　類 NDC8:549.8
本文言語 日本語
書誌ID TB00043151
ISBN 4817130288
NCID BN08248468
巻冊次 ISBN:4817130288 ; PRICE:2200円
目次／あらすじ

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