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デバイス・部品の故障解析 / 二川清[ほか]著
デバイス ブヒン ノ コショウ カイセキ
(信頼性110番シリーズ ; 1)

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越中島図書館 / 一般図書
549/S 9/1 50000183580 183580 481713027X

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出版情報 東京 : 日科技連出版社 , 1992.9
大きさ x, 127p ; 21cm
著者標目  二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ>
件　名 BSH:半導体
BSH:集積回路
BSH:信頼性(工学)
分　類 NDC8:549.8
本文言語 日本語
書誌ID TB00043152
ISBN 481713027X
NCID BN08119512
巻冊次 ISBN:481713027X ; PRICE:1800円
目次／あらすじ

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