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論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

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越中島図書館 / 一般図書
549.08/I 1/4 50000158937 158937 4000101846

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出版情報 東京 : 岩波書店 , 1985.5
大きさ x, 313p ; 22cm
一般注記 参考書: p303-305
著者標目  樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ>
 浅田, 邦博(1952-) <アサダ, クニヒロ>
 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム>
件 名 NDLSH:集積回路
分 類 NDC8:549
NDC8:549.08
NDC7:549.92
NDLC:ND351
NDLC:ND386
本文言語 日本語
書誌ID TB00072539
ISBN 4000101846
NCID BN00059257
巻冊次 ISBN:4000101846 ; PRICE:3400円
目次/あらすじ

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