このページのリンク

TOEIC L&Rテストよくわかる総合対策と解き方 / 早川幸治, ロス・タロック著
TOEIC L&R テスト ヨク ワカル ソウゴウ タイサク ト トキカタ

所蔵情報を非表示

越中島図書館 / 一般図書
830.7/H46/語学コーナー 2019514915 201951491 9784876153442

書誌詳細を非表示

出版情報 東京 : 語研 , 2019.4
大きさ x, 292p : 挿図 ; 21cm + CD-ROM1枚(12cm)
別書名 異なりアクセスタイトル:Focused preparation for the TOEIC L&R test
異なりアクセスタイトル:TOEIC L&Rテストよくわかる総合対策と解き方
一般注記 付属資料: MP3形式の音声データを収録したCD-ROM
著者標目  早川, 幸治 <ハヤカワ, コウジ>
 Tulloch, Ross
件 名 BSH:英語
分 類 NDC8:830.79
NDC9:830.79
NDC10:830.79
NDLC:YU37
本文言語 日本語,英語
書誌ID TB10101750
ISBN 9784876153442
NCID BB28294973
巻冊次 ISBN:9784876153442 ; PRICE:1800円+税
目次/あらすじ

 類似資料