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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ

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教育学(越)
371.7/H55 2023500443 202350044 9784779517044

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出版情報 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
大きさ viii, 223p ; 21cm
別書名 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
著者標目  Gergen, Kenneth J.
 Gill, Scherto R.
 東村, 知子 <ヒガシムラ, トモコ>
 鮫島, 輝美 <サメシマ, テルミ>
件 名 BSH:教育評価
NDLSH:教育評価
分 類 NDC9:371.7
NDC10:371.7
NDLC:FC63
本文言語 日本語
書誌ID TB10127035
ISBN 9784779517044
NCID BD00745593
巻冊次 ISBN:9784779517044 ; PRICE:2500円+税
目次/あらすじ

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